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その他
塩水噴霧・塩乾湿複合サイクル試験
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塩水噴霧･乾燥･湿潤･外気導入の設定ができ、定値からサイクル試験が可能な複合サイクル試験機です。電子部品、電子機器をはじめ車載関連製品等、耐腐食性の評価を行います。
短冊形の試験片から製品そのものの試験も可能です。
参照規格
JIS C 60068-2-11
JIS Z 2371 ・ JIS H 8502
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はんだぬれ性試験
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はんだのぬれとは、溶けたはんだが端子の上に広がっている状態をいい金属の種類、フラックス、金属表面の状態によりぬれ性は変化します。
はんだ平衡法、ソルダーペースト法、小球法の試験が可能です。
参照規格
JIS C 60068-2-54
JEDEC J-STD-002D
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はんだ耐熱性試験
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実装工程における電子部品が受ける熱ストレスへの影響を評価致します。
ベーク・吸湿の前処理を行い保管状態を再現、リフロー実施後、剥離やクラックの発生有無を確認致します。
参照規格
JEDEC J-STD-020 ・ JESD22-A113
JEITA ED4701/301A
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PIND試験
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宇宙向けハイブリッドICなど中空構造部品内部に混入した異物の有無を判定し、ショート等のトラブルを未然に検出するための試験装置です。
PIND試験（微粒子衝撃雑音検出）とは、試料に衝撃と振動をかけ、部品内部の異物がパッケージ
内部に衝突する際に発生する音を検出する試験です。
参照規格
MIL-STD-750 ・ MIL-STD-883
Q&A
Q：サンプルの大きさに制限はありますか？
A：ステージの大きさΦ50mmに収まるサイズであれば試験可能でございます。
Q：サンプルの重さに制限はありますか？
A：最大搭載重量 20G ピーク時、200グラムとなります。サンプル・試験条件に合わせてご相談ください。
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リーク試験
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宇宙向けハイブリッドICなど中空構造部品の封止状態の密閉性を評価・判定する試験です。
参照規格
MIL-STD-750 ・ MIL-STD-883
Q&A
Q：サンプルの大きさに制限はありますか？
A：Heリーク検出装置のサンプル格納スペースの大きさΦ90mmに収まるサイズであれば試験可能でございます。
Q：サンプルは一度に何個試験できますか？
A：弊社ではHeパージ装置を2個所有しておりますので一度に大バッチの試験が可能でございます。
詳細はお問い合わせ願います。
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ゲートリーク試験
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高温下で電界をかけ、ゲートリーク発生の有無を確認します。
ゲートリークが発生すると、電源電流・入力リーク電流の増加、機能（ファンクション）不良などが現れますが
本装置では確認できませんので、お客様でご確認頂く必要があります。
参照規格
AEC-Q100-006 REV-Dに準拠（廃止）
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コネクタ性能試験
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コネクタの形状に合わせた最適な試験方法をご提案致します。
各種試験：気密性・耐水・耐油・耐溶剤試験
各種測定：寸法・接触抵抗・絶縁抵抗・挿抜力測定
各種解析：断面観察・元素分析・低分子シロキサン分析
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